數(shù)字化射線檢測(cè)技術(shù)對(duì)產(chǎn)品檢測(cè)過程產(chǎn)生了巨大的影響，由于數(shù)字化成像技術(shù)能夠降低所需輻射能量及曝光時(shí)間，使得該技術(shù)明顯地降低成本、節(jié)省時(shí)間。該技術(shù)采用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、直接成像探測(cè)器或可重復(fù)使用的數(shù)字成像板來替代X射線膠片、暗室處理過程以及傳統(tǒng)的底片存檔。

CIT公司致力于數(shù)字化射線檢測(cè)系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)已有二十多年時(shí)間，市場(chǎng)覆蓋不同工業(yè)領(lǐng)域，并可根據(jù)ASNT或EN標(biāo)準(zhǔn)為客戶提供相關(guān)培訓(xùn)。CIT還是歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)、美國(guó)無損檢測(cè)學(xué)會(huì)及英國(guó)無損檢測(cè)學(xué)會(huì)成員單位。其客戶遍布，如英國(guó)BNFL、德國(guó)*、加拿大（AECL）、韓國(guó)KEPRI等。并與DURR NDT， ICM， TWI，Panasonic、HP等專業(yè)協(xié)會(huì)或公司建立長(zhǎng)期合作伙伴關(guān)系。

CIT公司的主要產(chǎn)品包括數(shù)字化射線成像系統(tǒng)，底片數(shù)字化系統(tǒng)，射線劑量計(jì)，雙絲像質(zhì)計(jì)，專門用于數(shù)字化成像質(zhì)量控制的測(cè)試板以及專業(yè)的射線檢測(cè)模擬軟件等數(shù)字化成像的相關(guān)產(chǎn)品。